Gemini 8KTDI LT
輕量版高速TDI-sCMOS相機
- 180-1100nm
- 256 階 TDI
- 500 KHz @ 8K
- CXP12 x 4 數據接口
- 風冷/自然散熱
產品介紹
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輕量版結構，適配產線高效集成需求
Gemini 8KTDI LT和上一代8KTDI高性能相機相比，體積整機縮小 64%，重量減輕 75%，功耗降低 50%，有效減少對設備系統資源的占用。同時針對高效集成需求對關鍵結構進行了優化：
① 提供自然散熱、風冷等兩種結構，替代上一代風水冷一體化設計，提高產線集成的靈活性；
② 采用與主流工業設備系統更兼容CXP接口，縮短設備開發與系統調試周期。
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500kHz高行頻，支撐工業高通量檢測
在先進封裝、AOI 自動光學檢測等規模化工業檢測場景中，產線工藝平臺成熟穩定，對成像設備核心訴求集中于產線適配性與長期可靠性。
Gemini 8KTDI LT 搭載 500kHz@8K 標準行頻，可充分滿足該類高穩定量產檢測需求，且相較傳統機型速率冗余更充足，可有效支撐產線節拍升級需求。
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科學級定量能力, 為產線良率提供保障
Gemini 8KTDI LT延續上一代8KTDI高性能版的科學級弱光成像優勢，同時提供兩種芯片版本選型：
① 可見光優勢版：覆蓋300nm至1100nm，峰值QE達94.2%；
② 紫外光優勢版：覆蓋180nm至1100nm, 在266nm核心應用波段QE高達65.8%。
同時依托鑫圖精密溫控與PRNU/DSNU像素級均一性校正技術，確保目標缺陷定量精度的穩定性，為產線良率提供核心保障。
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平臺化矩陣機型, 覆蓋多元應用需求
Gemini 8KTDI LT不是單臺相機，而是一個可靈活配置的成像平臺，目前已推出三款差異化機型:
① G8KTDILT-FAN-CXP：可見光優勢芯片+主動風冷架構，適配生物熒光、工業暗場弱光高精度定量檢測；
② G8KTDILT-HS-CXP：可見光優勢芯片+被動散熱架構，更適合半導體后道明場檢測及常規工業視覺任務；
③ G8KTDILT-UV-HS-CXP：紫外光優勢芯片+被動散熱架構，適用于半導體后道及工業高精度微缺陷檢測任務。
技術參數 >
- 品名: Gemini 8KTDI LT
- 型號: G8KTDI LT-FAN-CXP，G8KTDI LT-HS-CXP，G8KTDI LT-UV-HS-CXP
- 傳感器類型: BSI sCMOS TDI
- 彩色 / 黑白: 黑白
- 光譜范圍: VIS優勢版：300 nm-1100 nm; UV優勢版: 180 nm - 1100 nm
- 量子效率: 典型值：94.2%@460nm；65.8%@266nm
- 有效像素數: P1：8208 pixels x 256 stages；P2：8208 pixels x 32 stages
- 行頻: 500 KHz@8 bit; 410 KHz@10 bit ; 380KHz@12 bit
- 像素尺寸: 5 μm x 5 μm
- 位深: 8/10/12bit
- 讀出噪聲: 典型值：7.4 e-@12 bit
- 暗電流: 典型值：2000e-/p/s@25℃（校正后）
- 觸發模式: 觸發輸入，掃描方向輸入
- 觸發輸出: Strobe out
- 數據接口: CXP12 x 4
- 光學接口: M58*0.75
- 電源: DC 12V—DC 24 V，35 W
- 制冷方式: 風冷，自然散熱
- 備注: 如需了解更多技術參數信息，請下載產品技術規格書查看
應用方向 >
下載 >
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軟件 - SamplePro(TDIPro)_V1.1.12.0
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Gemini 8KTDI LT 技術規格書
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G8KTDILT-FAN-CXP 結構圖紙
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G8KTDILT-HS-CXP 結構圖紙
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